威宇佳半导体：SiC动态测试设备
2025-06-13
系统杂散电感Ls<15nH
展位号：7007
产品创新亮点：
1.系统杂散电感Ls<15nH
2.过流保护时间<1.5us
3.6单元IGBT测试时间<22s
4.大量标杆客户批量应用，量产使用超过8年
应用领域：功率半导体、新能源汽车
开发阶段：量产
龚淑娟
李峥
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作者：
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