NI发布全新SC Express PXI传感器测量RTD模块,扩大产品家族

发布时间:2012-05-23
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工程师可使用NI SC Express 产品家族中的NI PXIe-4357 RTD模块,PXI以及LabVIEW实时模块来创建稳定的传感器测量系统,其通道数可从十扩展至数千

· 电阻温度探测器(RTD)模块进一步扩展了测量性能,能够提供更高的温度精度。

· 工程师可使用NI SC Express 产品家族中的NI PXIe-4357 RTD模块,PXI以及LabVIEW实时模块来创建稳定的传感器测量系统,其通道数可从十扩展至数千

· SC Express将数据采集与信号调理集成在一个PXI模块中,从而实现高性能、稳定的传感器测量,以及速度和精度的优化

新闻发布 - 2012年5月- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块,扩大了面向PXI Express模块的产品家族。 该高性能模块新增Pt100 RTD传感器,优化了温度测量功能,可实现多种热监测应用。 NI PXIe-4357模块将传感器专用的信号调理与24位ADC集成, 以100 S / s的采样率,对全部20条通道进行采样,精度最高可达0.09摄氏度。 为了扩展系统的通道数,工程师还可集成更多的NI PXIe-4357模块,或使用其它SC Express模块在同一系统中添加辅助传感器输入,包括热电偶、应变计、加速度计和FBG光学传感器。

感言

“我们设计了SC Express,在单个模块上集成信号调理和AD转换,从而提高测量精度和稳定性。”; “SC Express基于PXI Express平台,工程师因此可以轻松地扩展通道数,与其它测量或控制模块同步,满足他们测试应用的具体需求。”

                                                                                                                    ——Kevin Schultz,

美国国家仪器研发副总裁

产品介绍

NI PXIe-4357 RTD模块

· 提供20条通道,能够集成24位delta-sigma模数转换器与抗混叠和低通滤波器

· 以高达100 S/s/ch的采样率和0.09摄氏度的精度采集数据

· 业界最为可靠的测量,且完全支持LabVIEW实时模块

· 在同一PXI机箱、跨机箱或跨设备,与SC Express产品家族中的其他模块同步

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